Surfix F德国菲 尼克斯外置探 头铁基统计型测厚仪

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上海市

    是否进口 加工定制 类型 薄膜测 厚仪
    品牌 PHOENIX/菲尼克斯 型号 Surfix F 测量范围 0-1500µm,0 - 60mils(mm)
    电源电压 两节1.5伏五号 碱性电池(V) 外形尺寸 137x66x23mm(mm)

    德国菲 尼克斯Surfix F外置探 头铁基统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计

    特点:1.德国PHYNIX公司制造
        2.碳化钨 超耐磨测头,特快反 应速度
       
    3.同屏显 示统计数据
        4.可存储前200测值
        5.可测铁 基体上涂镀层和有色金属
        6.基体上 涂层,量程1500μm
        7.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背 景光

          8.
    有红外 可接PC及打印机
      


     

    德国菲 尼克斯Surfix F外置探 头两用统计型测厚仪参数表:

    技术参 数:

         测量范围

     0-1500μm,0 - 60mils

         误差

     ±(1μm+1%读数)

         分辨率

     0.1μm小于读数2%

         显示

     背光, 字母加数字,10mm高,4位数字 显示

         基体最 小面积

     5mmX5mm

         基体最 小曲率

     凸面:1.5mm凹面:5mm

         基体最 小厚度

     F型:0.2mm ,N型: 50μm

         校准

     厂家校 准,零校准,校准箔校准

      数据统计(仅限统 计型)

     读数个数(最多9999个),平均 值,标准偏差,最大值和最小值

      数据存储(仅限统 计型)

     最多200个测量 数值,可单独 调出

        数据值(仅限统 计型)

     上下限 可调,声音报警

         数据接口

     红外通讯,IrDA标准

         环境温度/表面温度

     0-50/60(可选配150

         电源

     两节1.5伏五号 碱性电池

         仪器尺寸

     137x66x23mm

         符合标准

     DINISOASTMBS

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